Dyfraktometry XRD

Dyfrakcja rentgenowska XRD (ang. X-ray diffraction) jest nowoczesną techniką umożliwiającą badania szerokiego zakresu materiałów w postaci ciał stałych i ciekłych, takich jak: metale, minerały, polimery, katalizatory, plastiki, farmaceutyki, materiały cienkowarstwowe, ceramika, półprzewodniki, etc.
W przemyśle i instytucjach naukowych, dyfrakcja rentgenowska stała się niezastąpioną metodą badania, charakteryzowania i kontroli jakości materiałów. Obszary zastosowań techniki XRD to jakościowa i ilościowa analiza fazowa, określanie struktur, badanie tekstury i naprężeń.
Stałe udoskonalanie elementów systemu takich jak: źródło promieniowania, układy optyczny, detektory, mocowanie próbki czy oprogramowanie, zapewniają, że firma Bruker AXS może zaoferować odpowiednie rozwiązania dla praktycznie wszelkich zadań analitycznych. Oferowane systemy są budowane na tej samej platformie, co zapewnia łatwość modernizacji dyfraktometru w przyszłości.Więcej o dyfraktometrii XRD…

D2 PHASER

D2 PHASER to nowoczesny analizator biurkowy wykorzystujący dyfrakcję rentgenowską do jakościowej i ilościowej analizy faz krystalicznych. D2 PHASER wyposażony jest w wewnętrzny komputer i monitor LCD.
Urządzenie posiada łatwe w obsłudze, intuicyjne oprogramowanie DIFFRAC.SUITE, które pozwala na szybką analizę fazową. Dodatkowo detektor paskowy w technologii LYNXEYE™, pozwala na zbieranie danych krótkim czasie.
Dzięki wykorzystaniu wielu innowacyjnych technologii D2 PHASER jest kompaktowym, bardzo szybkim i wielofunkcyjnym dyfraktometrem. Urządzenie jest przenośne i łatwe do zainstalowania, potrzebne jest jedynie zasilanie sieciowe.
Prostota obsługi, wysoka jakość i niskie koszty zakupu to główne zalety dyfraktometru D2 PHASER. Przyrząd ten został zaprojektowany do aplikacji w przemyśle cementowym, geologicznym, chemicznym, farmaceutycznym, jak również dla celów naukowych i edukacyjnych.

więcej…

Pobierz ulotkę ( 1,5MB)

więcej…

D2 CRYSO

Dyfraktometr D2 CRYSO, służy do badania orientacji kryształów i wykorzystuje nowatorską, metodę dyspersji energii (ED-XRD). D2 CRYSO jest idealnym rozwiązaniem do określania struktury przestrzennej średnich i dużych monokryształów.

D2 CRYSO wyposażony jest w 30mm2 detektor XFlash® Silicon Drift (SDD) i mikroogniskujące źródło promieniowania rentgenowskiego. Taka kombinacja daje doskonałą rozdzielczość energetyczną i szybkość, a w dodatku nie wymaga układu chłodzenia.

D2 CRYSO został zaprojektowany do badania małych i dużych próbek stałych, monokrystalicznych – do 385mm średnicy i 210mm grubości. Typowe próbki to półprzewodniki takie jak Si, SiC, GaAs or Ge, kryształy optyczne jak tlenki, fluorki lub azotki, kryształy monochromatyczne, diamenty przemysłowe i rzadkie monokryształy metali, takie jak Ni, Ag czy Au.

więcej…

Pobierz ulotkę (0,2MB)

więcej…

D4 ENDEAVOR

Dyfraktometr D4 ENDEAVOR jest kompaktowym, zautomatyzowanym systemem proszkowej dyfrakcji rentgenowskiej (XRD) dedykowanym kontroli procesów przemysłowych oraz kontroli jakości. Pozwala on na przeprowadzanie jakościowych oraz ilościowych analiz fazowych, badań zmęczenia materiałowego oraz badań strukturalnych. Dyfraktometr D4 ENDEAVOR jest intuicyjny w obsłudze – interfejs użytkownka zapewnia wysoki stopień automatyzacji, a podawanie próbek odbywa się za pomocą pasa transportowego lub robota. Dyfraktometr jest wyposażony w duży magazyn i pozwala na przechowywanie wielu różnorodnych próbek. Próbka może być cieczą lub ciałem stałym (np. proszkiem), niewielką w rozmiarach bądź ilości, o nieregularnym kształcie, wrażliwą na otoczenie. D4 ENDEAVOR jest doskonałym rozwiązaniem dla przemysłu aluminiowego, cementowego, chemicznego, farmaceutycznego, produkcji barwników oraz geologii.

więcej…

Pobierz ulotkę (1,8MB)

więcej…

D8 FOCUS

Dyfraktometr D8 FOCUS zapewnia wysoką wydajność oraz doskonałą jakość danych analitycznych. Oprzyrządowanie oraz oprogramowanie instrumentu są zoptymalizowane dla łatwego użytkowania i czynią z dyfraktometru idealne urządzenia dla laboratoriów przemysłowych oraz szkolnictwa wyższego. D8 Focus pracuje w geometrii Bragg-Brentano, gdy mamy do czynienia z próbkami proszkowymi lub w geometrii wiązki równoległej (wraz ze zwierciadłem Goebla) – dla próbek o nieregularnym kształcie. Optyka dyfraktometru i uchwyt próbki mogą zostać wymienione bez użycia narzędzi i regulacji. D8 Focus jest standardowo wyposażony w licznik scyntylacyjny, z wysokim dynamicznym zakresem i niskim tłem. Aby obniżyć tło fluoryzującej próbki można użyć detektora z dyspersją energii promieniowania rentgenowskiego Sol-X. Do szybkich pomiarów idealnym zastosowaniem jest detektor liniowy LynxEye, który może przyspieszyć pomiary aż do 200-krotnie.

Zastosowanie w analizie dyfraktometru D8 FOCUS pozwala na identyfikację i określenie ilościowo różnych faz wewnątrz próbki. Nieznane materiały można oznaczać i szczegółowo analizować ich krystaliczną strukturę używając oprogramowania TOPAS. Te same dane zapewniają także informację o rozmiarach krystalitu oraz o mikronapięciach krystalicznych. Dodatkowo komora temperaturowa pozwala na przeprowadzenie obserwacji zmian fazowych.

więcej…

więcej…

D8 ADVANCE

Dyfraktometr D8 ADVANCE jest najlepiej sprzedającym się urządzeniem stosowanym w dyfrakcji proszkowej. Spełnia on wszelkie oczekiwania w pomiarach metodą dyfrakcji rentgenowskiej. Możliwość kombinacji: źródeł promieniowania rentgenowskiego, optyki, różnych rodzajów próbek oraz detektorów pozwala osiągnąć wymaganą konfigurację. System można nabyć w wersji podstawowej, ale również istnieje możliwość jego rozbudowy.
Optyka dyfraktometru D8 ADVANCE typu „push-plug” pozwala na szybkie przełączenie się pomiędzy geometrią typu Bragg-Brentano a geometrią promieniowania równoległego bez konieczności przebudowy systemu. Dyfraktometr może być wyposażony w automatyczny zmieniacz próbek umożliwiający pomiar do 90 próbek w geometrii transmisyjnej i odbiciowej.

W zależności od wymagań analitycznych użytkownik może wybrać pomiędzy dynamicznymi licznikami scyntylacyjnymi, detektorem z dyspersją energii promieniowania rentgenowskiego Sol-X lub też szybkim detektorem Super Speed VANTEC-1 czy LynxEye.

Każdy dyfraktometr jest gotowy do pracy w zakresie od ilościowej i jakościowej identyfikacji faz w zdeterminowanych i nie zdeterminowanych warunkach otoczenia, aż do oznaczania struktury kryształu próbek proszkowych, oznaczenia wielkości krystalitu, analizy mikro naprężeń, zmęczenia materiału oraz preferowanej orientacji.

więcej…

więcej…

D8 ADVANCE Z DAVINCI

D8 ADVANCE Z DAVINCI – pierwszy dyfraktoemtr proszkowy do wszystkich zastosowań w dyfrakcji.
Innowacyjny projekt dyfraktometru D8 Advance z Davinci gwarantuje bezpieczeństwo operatorowi oraz pozwala na łatwe i intuicyjne użytkowanie. Odpowiedni dobór podzespołów, elektroniki i oprogramowania umożliwia szybką adaptację urządzenia do wszelkich zastosowań w dyfrakcji proszkowej. Układy optyczne zastosowane w nowym dyfraktometrze D8 Advace z Davinci zapewniają rzeczywisty system „podłącz i używaj” (plug’n play), które czasami nie wymaga nawet ingerencji operatora. Nowy dyfraktometr został wyposażony w układy optyczne, które pozwalają na automatyczną zmianę geometrii bez użycia narzędzi. D8Advance nowej generacji, dzięki stabilności przyrządu oraz jego podzespołów gwarantuje każdemu możliwość osiągania najlepszych wyników.
Pakiet oprogramowania DIFFRAC.SUITE dla nowego dyfraktometru D8 Advance.
Dla owego dyfraktometru D8 Advance z Davinci stworzono nowy pakiet oprogramowania DIFFRAC.SUITE. Oprogramowanie jest tak skonstruowane, aby każdy zamontowany komponent automatycznie był rejestrowany w systemie z odpowiednimi parametrami. DIFFRAC.SUITE to oprogramowanie intuicyjne, która pozwala Użytkownikowi na personalizację ustawień, a także posiada wszystkie zalety poprzedniej wersji.

Nowy dyfraktometr spełnia wszystkie wymogi bezpieczeństwa i posiada wszelkie niezbędne certyfikaty, aby jego użytkowanie było zgodne z obowiązującymi lokalnymi przepisami.

więcej…

więcej…

D8 DISCOVER

Dyfraktometr D8 DISCOVER to dyfraktometr wykorzystywany jest do badań kontroli jakości procesów produkcyjnych przy zastosowaniu rozwiązań techniki cienkiego filmu „Thin Film”. Dyfraktometr D8 DISCOVER bazuje na platformie D8 z niezawodnym mechanizmem i ergonomią. Posiada zwierciadło Goebla trzeciej generacji, które to zapewnia najwyższą gęstość strumienia promieniowania rentgenowskiego, co jest istotą dla wszystkich zastosowań techniki cienkiego filmu „Thin Film”.
Wysoko wydajne rodzaje optyki są wyselekcjonowane i wymienialne po to aby zapewnić optymalną rozdzielczość dla każdego z możliwych zastosowań oraz dla różnorodnych próbek.

Optymalne podawanie próbek jest zaletą nowych stolików UMC, tak samo jak różnego rodzaju kół Euler’a w badaniach np. naprężeń szczątkowych, tekstury, mikrodyfrakcji oraz temperaturowych.

więcej…

więcej…

D8 DISCOVER Z DAVINCI

D8 DISCOVER Z DAVINCI – nowej generacji dyfraktometr z łatwym w użyciu definiowalnym rozpoznaniem komponentów w czasie rzeczywistym, automatyczną informacją o zaistalowanych podzespołach na wirtualnym goniometrze, całkowicie zintegrowanym dwuwymiarowymi pomiarami XRD2. Te wyjatkowe rozwiązania pozwalają Użytkownikowi stosować jedno urządzenie do wielu aplikacji, tj. wszelkie badaniami materiałowe, łącznie z reflektometrią, dyfrakcja wysokorozdzielcza, IP-GID (grazing incidence diffracion), dyfrakcja niskokątowa (SAXS), a także badania naprężeń szczątkowych oraz tekstury.

DWUWYMIAROWY DETEKTOR VANTEC-500

więcej…

więcej…

D8 FABLINE

Dyfraktometr D8 FABLINE to idealne narzędzie dla przemysłu półprzewodników.

The functional units of semiconductor and compound-semiconductor devices continuously shrink in size and thickness. Additionally, the structure of the devices becomes more and more complex, the process more and more expensive. Thus, the demand for reliable analytics, such as X-ray diffraction, for process development and at-line or in-line quality control increases permanently.

Why X-ray diffraction? First: X-ray diffraction is a non-destructive method probing the nanometre scale, which provides various essential material parameters without the need for being referenced. Second: the method is known and accepted for its accuracy and reliability since years in science, research, and development. In many cases just one quick X-ray diffraction measurement is required to determine sample parameters such as: layer thickness, roughness, density, and chemical composition; porosity; lattice spacing, gradients, mismatches, and degree of relaxation; preferred orientation, texture, stress, and strain – all with a local resolution down to some 10 µm square.

więcej…

Pobierz ulotkę (3,9MB)

więcej…

NANOSTAR

Obecnie naukowcy i inżynierowie materiałowi prowadzą badania nad właściwościami materiałów w skali nano. Postęp w dziedzinie ciekłych kryształów, organicznych metali i pokryć cienko warstwowych jest możliwy dzięki badaniom i zmianom ich nanostruktury. Niezawodną, ekonomiczną i bez destrukcyjną metodą analizy nanostrukturalnych materiałów jest metoda SAXS (Small-Angle X-ray Scattering).

SAXS dostarcza informacji takich jak wielkość cząstek, rozkład rozmiarów od 1 do 100 nm, orientację w cieczach, proszkach i w próbkach o dużym rozmiarze. W tym celu wykorzystuje się do badań przyrząd NANOSTAR, który posiada znakomite źródło promieniowania rentgenowskiego połączone z innowacyjną multi-warstwową optyką. Zapewnia on intensywny punktowy promień padający na próbkę, zaś dwuwymiarowy detektor HI-STAR, jest praktycznie bezszumowy.

więcej…

więcej…