#
Spektrometry FT-IR
VERTEX 80v

Spektrometr VERTEX 80v (próżniowy) oparty jest na aktywnie justowanym interferometrze UltraScan™, który zapewnia najwyższą rozdzielczość. Precyzyjny, liniowy, powietrzy skaner oraz najwyższej jakości optyka gwarantują unikalną czułość i stabilność. VERTEX 80v pozwala na uzyskanie próżni eliminując problem absorpcji atmosferycznej celem uzyskania najwyższej czułości i stabilności; umożliwia to pomiary wysokorozdzielcze, ultraszybkie rapidscan, step-scan, UV.
Optyka spektrometru VERTEX 80v zapewnia najszersze możliwości rozbudowy oraz najwyższą wydajność systemu. Unikalna technologia DigiTect™ zapobiega zakłóceniom, gwarantuje najwyższy stosunek sygnału do szumu oraz umożliwia szybką i powtarzalną wymianę detektora przez użytkownika. W połączeniu z chłodzonym wodą źródłem Hg, odkryty na nowo zakres THz jest dostępny nawet przy użyciu detektora DTGS pracującego w temperaturze pokojowej.

Szeroki zakres spektralny
Spektrometr VERTEX 80v może zostać opcjonalnie wyspożony w komponenty optyczne pozwalające na pokrycie zakresu spektralnego od dalekiej podczerwieni lub THz, przez średnią i bliską podczerwień, aż do UV/VIS. Dzięki prekalibrowanym komponentom optycznym i aktywnie justowanemu interferometrowi UltraScan™, zmiana zakresów jest niezwykle prosta.
BMS-c: Bruker zapewnia wysoce precyzyjną opcję automatycznej zmiany beamsplitterów dostępną dla spektrometru próżniowego VERTEX 80v.
Automatyczna, zdalnie sterowana wymiana do 4 zainstalowanych beamsplitterów w warunkach próżniowych jest dostępna dla spektrometru próżniowego VERTEX 80v. Kompletne widmo w zakresie od UV/VIS do dalekiej podczerwieni/THz może zostać uzyskane bez konieczności wentylacji spektrometru wymaganej przy manualnej zmianie beamsplitterów.
Nowość: Bruker rozszerzył zakres dostępnych beamsplitterów o nowy, szerokopasmowy beamsplitter na zakres dalekiej podczerwieni/THz dla spektrometru FTIR VERTEX 80v. Dla badań R&D półprzewodników i związków nieorganicznych nowy beamsplitter pozwala uzyskać więcej cennych informacji pokrywając zakres powyżej 900 cm-1 do 5 cm-1 w jednym pomiarze, a także łączy średnią podczerwień z zakresem FIR/THz.

Rozdzielczość spektralna
Spektrometr VERTEX 80v w podstawowej konfiguracji zapewniają rozdzielczość lepszą niż 0.2 cm-1 (apodyzowana), która jest wystarczająca do większości pomiarów gazów pod ciśnieniem atmosferycznym oraz badań próbek w temperaturze pokojowej. Dla zaawansowanych badań niskotemperaturowych np. krystaliczne materiały półprzewodnikowe lub pomiary gazów pod niskim ciśnieniem, dostępna jest rozdzielczość lepsza niż 0.06 cm-1. Rozdzielczość ta, to najwyższa wartość osiągnięta przy wykorzystaniu komercyjnego spektrometru FTIR. Wysokorozdzielcze widma w zakresie VIS prezentują zdolność rozdzielczą lepszą od 300,000:1.

Wszechstronność
Innowacyjny design optyki zapewnia najszersze możliwości rozbudowy. Próżniowy układ optyczny spektrometru zapewnia najwyższą czułość w zakresie MIR, NIR, FIR bez obawy o maskowanie słabych sygnałów przez parę wodną. Doskonałe wyniki np. w nanotechnologii pozwalają na badania do poniżej 10-3 monowarstw, przy wykorzystaniu spektrometru próżniowego VERTEX 80v. Nie występują praktycznie żadne ograniczenia dotyczące rozbudowy systemu. Spektrometr jest wyposażony w łącznie 5 portów wyjściowych po prawej i lewej stronie oraz na froncie, a także 2 porty wejściowe po prawej stronie i z tył spektrometru. Tak rozbudowane możliwości pozwalają na jednoczesne podłączenie np. źródła synchrotronowego do portu z tyłu systemu, modułu modulacji polaryzacji PMA 50 po prawej stronie, modułu światłowodowego na froncie po prawej stronie, bolometru na froncie po lewej stronie i mikroskopu FTIR HYPERION po lewej stronie spektrometru.

Sztuczna inteligencja sieciowa
Funkcje takie, jak automatyczne rozpoznawanie akcesoriów pomiarowych (AAR) i komponentów optycznych (ACR), automatyczne ustawienia i kontrola parametrów pomiarowych oraz ciągła kontrola (PerformanceGuard) funkcjonalności spektrometru sprawia, że spektroskopia FTIR staje się łatwa, szyba i wiarygodna nawet przy wymagających badaniach R&D.

Akcesoria zewnętrzne, źródła i detektory
Spektrometr VERTEX 80v wyposażony jest w 5 portów wyjściowych i 2 porty wejściowe oraz oferuje możliwość połączenia np. z zewnętrznym laserem i źródłem synchrotronowym. Ponadto, system może zostać rozszerzony o zewnętrzne akcesoria pomiarowe, źródła i detektory. Są to m.in.:

  • PMA 50 moduł polaryzacji do VCD i PM-IRRAS
  • PL II moduł fotoluminescencji
  • RAM II moduł FT-Raman i mikroskop RamanScope III
  • TGA-FT-IR
  • HYPERION mikroskop FTIR
  • HYPERION 3000 system obrazowania FTIR
  • HTS-XT
  • IMAC moduł do makroobrazowania przy użyciu detektora ogniskowej matrycy
  • Zewnętrzna komora pomiarowa XSA, próżniowa lub z przedmuchem
  • Adaptacja do systemów UHV
  • Moduł próżniowy PL/PT/PR
  • Kriostaty chłodzone ciekłym helem lub kriostaty kriogeniczne
  • Moduł do podłączenia sond światłowodowych MIR lub NIR do pomiarów ciał stałych i cieczy
  • Sfery integrujące
  • Autosampler
  • Zewnętrzne źródło Hg na zakres FIR
  • Unikalny szerokopasmowy detektor MIR-FIR
  • Beamsplitter Solid State na zakres FIR/THz
  • Zewnętrzny adapter emisyjny
  • Zewnętrzne wysokoenergetyczne źródło MIR
  • Zewnętrzne wysokoenergetyczne źródło VIS
  • Zewnętrzna próżniowa komora na 4 detektory
  • Adaptacja bolometru na zakres FIR
  • Automatyczny zmieniacz beamsplitterów dla spektrometru VERTEX 80v (BMS-c)
VERTEX 80v right side

Spektrometr VERTEX 80v to system do zaawansowanych zastosowań badawczych. Innowacyjna optyka sprawia, że spektrometr VERTEX 80v oferuje najwyższe dostępne parametry. Dostępny jest zakres spektralny regionu od UV/VIS (50000 cm-1) do FIR/THz (5 cm-1), najwyższa rozdzielczość spektralna i najszersze możliwości rozbudowy.

Badania R&D

  • Techniki Continuous i Step Scan do pomiarów czasowo-rozdzielczych oraz spektroskopii modulacji amplitudy/fazy
  • Rapid, Interleaved i Step Scan do pomiarów z wysoką rozdzielczością czasową (Step Scan / Rapid Scan / Interleaved TRS)
  • Charakterystyka uporządkowanych okresowo materiałów mikroskopowych – metamateriałów
  • Wysokorozdzielcza spektroskopia gazów z rozdzielczością >0.06 cm-1
  • Metoda stopped-flow do eksperymentów katalizy enzymatycznej
  • Zewnętrza adaptacja do pomiarów w UHV
  • Spektroelektrochemia FT-IR do badań in-situ powierzchni elektrod i elektrolitów

Farmacja

  • Określanie konfiguracji absolutnej cząsteczek (VCD)
  • Charakterystyka stabilności i zawartości lotnej leków przy wykorzystaniu analizy termicznej (TGA-FTIR)
  • Różnicowanie form polimorficznych API w zakresie dalekiej podczerwieni

Polimery i chemia

  • Identyfikacja wypełniaczy nieorganicznych w kompozytach polimerowych w dalekiej podczerwieni
  • Dynamiczne i reooptyczne badania polimerów
  • Oznaczenie związków lotnych i charakterystyka procesów dekompozycji przy użyciu analizy termicznej (TGA-FTIR)
  • Monitorowanie przebiegu reakcji (sonda światłowodowa MIR)
  • Identyfikacja pigmentów i minerałów

Analiza powierzchniowa

  • Detekcja i charakterystyka cienkich warstw i monowarstw
  • Analiza powierzchniowa połączona z modulacją polaryzacji (PM-IRRAS)

Inżynieria materiałowa

  • Charakterystyka materiałów optycznych i wysokorefleksyjnych (okna, lustra)
  • Badania ciemnych materiałów oraz profili głębokościowych przy użyciu spektroskopii fotoaktustycznej (PAS)
  • Charakterystyka emisyjności materiałów

Półprzewodniki

  • Określanie zawartości tlenu i węgla w waflach krzemowych podczas kontroli jakości
  • Niskotemperaturowe pomiary transmitancji i fotoluminescencji (PL) do kontroli jakości zanieczyszczeń śladowych
#
Copyright © Bruker Polska sp z o.o.
projekt strony POZitive.pl
  • #
  • #
  • #
  • #
  • #
  • #
Kliknięcie powoduje przeniesienie do gornej części strony.